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CLJ-E型華宇半導體激光塵埃粒子計數器

CLJ-E型激光塵埃粒子計數器是用來檢測凈化環境中單位體積內所含塵埃顆粒數的計數儀器。本儀器空氣采樣量為 2.83 L/min （即0.1立方英尺/min），滿足國家計量總局頒布的 JJF1190-2008檢定規程的要求，能直接檢測1000000級、300000級、100000級、10000級、1000級、100級的潔凈環境。
CLJ-E型華宇半導體激光塵埃粒子計數器功能介紹：

CLJ-E型激光塵埃粒子計數器一次采樣可同時測得六種粒徑檔的塵埃顆粒數，并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數目及變化情況，也可打印其檢測結果，對研究、檢測和評價各種潔凈環境十分方便。因此，本儀器可廣泛應用于微電子、醫療制藥、生化制品、血液制品、食品衛生、化妝用品、精密機械、精細化工和航天航空等部門。該儀器還可以選配溫度與濕度的測量功能，能在測塵埃的間隙，測量環境溫濕度并能打印結果。

CLJ-E型華宇半導體激光塵埃粒子計數器主要特點：

（1）粒徑分擋 0.3μm；0.5μm；1μm；3μm；5μm；10μm六檔；

（2）采樣時間：1～10分鐘；

（3）采樣點數：2～7點設定；

（4）每點采樣次數：2～9次設定；

（5）六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示；

（6）顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m³所含顆粒數；

（7）顯示或打印當前溫度和濕度的數值。
CLJ-E型華宇半導體激光塵埃粒子計數器技術參數：
1.光源:全半導體激光光源，進口二極管激光器
2.采樣量:2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍:100級～30萬級    
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道:0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m³所含顆粒數。
7.采樣周期:1～10 (min)
8.自凈時間:≤15 (min)
9.校準：可追溯美國國家標準技術協會（NIST），我公司已通過國家計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方國家計量機構進行校準
10.工作環境:溫度:10～35℃   相對溫度:     20～75%RH
11.樶大功耗:25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1）溫度：0～50℃±1℃
（2）濕度：0～100%RH±5%
13.采樣點數：2～7點設定
14.每點采樣次數：2～9次設定
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間：8 小時
17.電源： AC220V±10%    50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸:260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。
21.備注:內置打印機、自動判斷凈化等級、等動力采樣頭、采樣架

主營產品：愛華聲級計、噪聲統計分析儀、聲學振動測試分析儀、鐵損測量儀、高斯計、磁通計，激光對中儀，金相磨拋機等全系列金相試驗設備，無損檢測設備（硬度計、涂層測厚儀、超聲波測厚儀、粗糙度儀），漆包線檢測設備、激光測徑儀、鹽霧試驗箱、高低溫試驗箱、工業內窺鏡、塵埃粒子計數器等。