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CLJ-D型華宇半導體激光塵埃粒子計數器
寧波CLJ-D型半導體激光塵埃粒子計數器滿足國家計量總局頒布的JJG547-88檢定規程的要求，整機功能采用進口微電腦控制處理技術及國際上先進的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。儀器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子數，并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數目及其變化情況，對于研究、檢測和評價各種潔凈環境都十分方便。該系列儀器性能設計先進、質量穩定可靠。
CLJ-D型半導體激光塵埃粒子計數器結構原理：
CLJ-D型塵埃粒子計數器是按照微粒的光散射原理設計而成的。運動的微粒通過光束時產生光脈沖，光的強度與粒子的大小成比例。本儀器利用幾組光學透鏡把光束聚焦，并把焦點投影到傳感器的散射腔體的中心位置形成一個微小光敏區，空氣中的塵埃粒子隨采樣氣流穿過光敏感區時，產生散射光，形成光脈沖。光脈沖投影到光電倍增管上，光電倍增管將其轉換成相應的電脈沖信號。此信號經放大處理后，送入不敷出六路甄別器甄別分檔，然后送入電腦進行計數處理，并顯示測試結果，其結果也可打印。
CLJ-D型半導體激光塵埃粒子計數器技術指標：
1.光源: 全半導體 激光光源
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍: 100級～100萬級  
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道: 0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m³所含顆粒數。
7.采樣周期: 1～10 (min)
8.自凈時間: ≤15 (min)
9.校準：可追溯美國國家標準技術協會（NIST），我公司已通過國家計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方國家計量機構進行校準
10.工作環境: 溫度:10～35℃    相對溫度: 20～75%RH
11.蕞大功耗: 25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1）溫度：0～50℃±1℃
（2） 濕度：0～100%RH±5%
13.采樣點數：2～9點設定
14.每點采樣次數：3～5次設定
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間：8 小時
17.電源：AC220V±10%    50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。
21.備注: 內置打印機、自動判斷凈化等級、等動力采樣頭、采樣架
CLJ-D型半導體激光塵埃粒子計數器適用領域：
該系列產品已被廣泛應用于潔凈室檢測；過濾器現場檢測、檢漏；可監測超凈工作臺、生物安全柜，HVAC系統，計算機室、飲料包裝環境，*生產環境，醫院潔凈手術室，汽車噴涂環境微電子、制藥、生化制品、食品衛生、精細化工、精密機械和航空航天等生產和科研部門，是制藥企業及其監督管理部門貫徹GMP規范及電子生產企業的首選儀器。

主營產品：愛華聲級計、噪聲統計分析儀、聲學振動測試分析儀、鐵損測量儀、高斯計、磁通計，激光對中儀，金相磨拋機等全系列金相試驗設備，無損檢測設備（硬度計、涂層測厚儀、超聲波測厚儀、粗糙度儀），漆包線檢測設備、激光測徑儀、鹽霧試驗箱、高低溫試驗箱、工業內窺鏡、塵埃粒子計數器等。